#C05TL01P05. C05T.L01.实战训练一.题目5.芯片测试
C05T.L01.实战训练一.题目5.芯片测试
题目描述
有 n ( 2 ≤ n ≤ 20 ) 块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
第 1 行为一个整数 n ,表示芯片个数。
第 2 行到第 n+1 行为 n*n 的一张表,每行 n 个数据。表中的每个数据为 0 或 1 ,在这 n 行中的第 i 行第 j 列 ( 1 ≤ i , j ≤ n )的数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果, 1 表示好, 0 表示坏, i=j 时一律为 1 (并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试 )。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。
样例
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3
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